SN/T 3767.4-2014 出口食品中轉(zhuǎn)基因成分環(huán)介導(dǎo)等溫擴增（LAMP）檢測方法 第4部分：玉米Bt176品系

SN/T 3767.4-2014 出口食品中轉(zhuǎn)基因成分環(huán)介導(dǎo)等溫擴增（LAMP）檢測方法 第4部分：玉米Bt176品系（2014-8-1實施）
SN/T 3767的本部分規(guī)定了食品中轉(zhuǎn)基因玉米Bt176品系特異性的環(huán)介導(dǎo)等溫擴增(LAMP)初篩檢測方法。
本部分適用于玉米及其加工產(chǎn)品中轉(zhuǎn)基因玉米Bt176品系特異性成分的定性檢測。
本方法的定性檢測低限為0.5％(質(zhì)量分數(shù))。