HJ/T 173-2005 環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)樣品研復(fù)制技術(shù)規(guī)范
本標(biāo)準(zhǔn)于2018-4-1被HJ 173-2017 環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)樣品研復(fù)制技術(shù)規(guī)范（發(fā)布稿）代替
本規(guī)范規(guī)定了環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)樣品研復(fù)制策劃、均勻性和穩(wěn)定性研究與檢驗(yàn)、測定、特性量值評(píng)定、證書與標(biāo)簽制作、包裝、貯存與運(yùn)輸?shù)冗^程的基本技術(shù)要求，主要適用于環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)樣品研復(fù)制及其技術(shù)管理工作。